鏡頭測試，光學(xué)表面測試，人工晶狀體質(zhì)量控制 Kaleo MTF測試儀

 

Phasics為研發(fā)和生產(chǎn)中的鏡片質(zhì)量控制和表面測量提供了全方位的計量工具。這些計量儀器包括獨(dú)立傳感器和自動離軸透鏡測試臺等等產(chǎn)品。所有這些解決方案采用Phasics獨(dú)特的波陣面技術(shù)，并在保持易于使用和通用計量工具的同時執(zhí)行可靠而完整的測量。覆蓋的波長范圍從紫外線到遠(yuǎn)紅外線，并且都可以使用相控解決方案。

 

Kaleo IR波前傳感器產(chǎn)品介紹：

該產(chǎn)品使得紅外透鏡的質(zhì)量控制非常簡單。Kaleo IR MTF可以在所有頻率下單次拍攝而無需掃描或復(fù)雜對準(zhǔn)。 該單次采集還提供了所有波前像差。Kaleo紅外工作臺可作為NIR，SWIR，MWIR或LWIR區(qū)域中任何波長組的具有成本效益的紅外干涉儀。

 

MTF測試儀可測參數(shù)：

-MTF函數(shù)

-波前誤差和像差

-多波長測試

 

Kaleo MTF for R&D鏡頭測試平臺介紹：

Kaleo MTF工作臺可在多個波長下執(zhí)行自動離軸MTF和波前誤差測量。 它還通過聚焦MTF，畸變，EFL等方式來測量像差（澤尼克系數(shù)）。依據(jù)鏡頭的出瞳參數(shù)，精確計算并測量透鏡的離軸參數(shù)。 該工作臺利用Phasics提供的完整的質(zhì)量控制技術(shù)，具有易用性和多功能性。

 

Kaleo MTF for R&D鏡頭測試平臺特點(diǎn)

-400至1100nm的6個波長

-在不同的方位角的測試

 

Kaleo-I傳函測量儀介紹：

儀器是專為屈光人工晶狀體（球面，非球面，復(fù)曲面或雙焦點(diǎn)）的質(zhì)量控制而設(shè)計的。由于采用高分辨率的波前傳感器，它可以實(shí)現(xiàn)快速而可靠的測量。在生產(chǎn)中，它提供了ISO11979標(biāo)準(zhǔn)所要求的功率和MTF，包括模型眼。對于研發(fā)而言，它還提供了許多額外的結(jié)果，例如通過焦點(diǎn)的MTF和球差的像差。

 

鏡頭質(zhì)量控制平臺Kaleo-I的特點(diǎn)：

-符合ISO 11979-2標(biāo)準(zhǔn)的電源和MTF上通過/失敗顯示

-單個鏡頭和批次自動報告

-專用試管和模型眼

-快速的計算機(jī)輔助對準(zhǔn)（僅對中）

 

Kaleo光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀產(chǎn)品介紹：

Phasics可提供較為完整的透鏡特性測試方案：離軸MTF和多種波長的波前誤差。得益于Phasics專利技術(shù)，即使在大視野（FoV）時也可以提供準(zhǔn)確的結(jié)果。Kaleo MTF測試儀非常適合測量少量物鏡。操作員或研發(fā)工程師可以使用它來驗(yàn)證設(shè)計和原型階段。 光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀可通過一次采集即可提供完整的測試參數(shù)輸出。

市場：汽車行業(yè)| ADAS | 監(jiān)視和安全| 無人機(jī)| 移動電話

Phasics Kaleo MTF 測試平臺的特點(diǎn)：

-單次測量，MTF測量高達(dá)截止頻率，精度類似于干涉測量法

-高品質(zhì)的準(zhǔn)直光源，經(jīng)濟(jì)有效的解決方案

-無需重新校準(zhǔn)離軸測量，自動對焦，易于校準(zhǔn)和多種應(yīng)用

-幾種不同的波長（默認(rèn)為RGB + IR），在幾個方位角處測量

-全自動測量過程

 

Phasics MTF光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀可測的參數(shù)

-軸上和軸外MTF，通過焦點(diǎn)MTF

-傳輸?shù)牟ㄇ板e誤，Zernike多項(xiàng)式

-鏡頭參數(shù)：EFL，F(xiàn)＃，OPD在鏡頭出口瞳孔

-散光，圖像失真，場曲率

-相對照度曲線

 

法國Phasics 鏡頭測試系統(tǒng)的具體參數(shù)：

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法國 Phasics公司提供Kaleo光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀，其能提供較為完整的透鏡特性測試方案，包括離軸MTF和寬波長的波前誤差測試。這個系列的MTF測試儀可用于鏡頭測試，光學(xué)表面測試。Kaleo IR 紅外透鏡的質(zhì)量控制及測試系統(tǒng)，提供多個紅外波長的測試方案。Kaleo MTF for R&D測試儀對于研發(fā)的特點(diǎn)是多個波長下進(jìn)行自動離軸MTF以及波前誤差測試。Kaleo i是一款人工晶狀體質(zhì)量控制測試儀。

Kaleo IR波前傳感器產(chǎn)品介紹：

該產(chǎn)品使得紅外透鏡的質(zhì)量控制非常簡單。Kaleo IR MTF可以在所有頻率下單次拍攝而無需掃描或復(fù)雜對準(zhǔn)。 該單次采集還提供了所有波前像差。Kaleo紅外工作臺可作為NIR，SWIR，MWIR或LWIR區(qū)域中任何波長組的具有成本效益的紅外干涉儀。

 

Phasics公司Kaleo光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀MTF測試儀可測參數(shù)：

-MTF函數(shù)

-波前誤差和像差

-多波長測試

 

Phasics公司Kaleo光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀Kaleo MTF for R&D鏡頭測試平臺介紹：

Kaleo MTF工作臺可在多個波長下執(zhí)行自動離軸MTF和波前誤差測量。 它還通過聚焦MTF，畸變，EFL等方式來測量像差（澤尼克系數(shù)）。依據(jù)鏡頭的出瞳參數(shù)，精確計算并測量透鏡的離軸參數(shù)。 該工作臺利用Phasics提供的最完整的質(zhì)量控制技術(shù)，具有易用性和多功能性。

 

Phasics公司Kaleo光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀Kaleo MTF for R&D鏡頭測試平臺特點(diǎn)

-400至1100nm的6個波長

-在不同的方位角的測試

 

Kaleo-I傳函測量儀介紹：

儀器是專為屈光人工晶狀體（球面，非球面，復(fù)曲面或雙焦點(diǎn)）的質(zhì)量控制而設(shè)計的。由于采用高分辨率的波前傳感器，它可以實(shí)現(xiàn)快速而可靠的測量。在生產(chǎn)中，它提供了ISO11979標(biāo)準(zhǔn)所要求的功率和MTF，包括模型眼。對于研發(fā)而言，它還提供了許多額外的結(jié)果，例如通過焦點(diǎn)的MTF和球差的像差。

 

鏡頭質(zhì)量控制平臺Kaleo-I的特點(diǎn)：

-符合ISO 11979-2標(biāo)準(zhǔn)的電源和MTF上通過/失敗顯示

-單個鏡頭和批次自動報告

-專用試管和模型眼

-快速的計算機(jī)輔助對準(zhǔn)（僅對中）

 

Kaleo光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀產(chǎn)品介紹：

Phasics可提供最完整的透鏡特性測試方案：離軸MTF和多種波長的波前誤差。得益于Phasics專利技術(shù)，即使在大視野（FoV）時也可以提供準(zhǔn)確的結(jié)果。Kaleo MTF測試儀非常適合測量少量物鏡。操作員或研發(fā)工程師可以使用它來驗(yàn)證設(shè)計和原型階段。 光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀可通過一次采集即可提供完整的測試參數(shù)輸出。

市場：汽車行業(yè)| ADAS | 監(jiān)視和安全| 無人機(jī)| 移動電話

Phasics Kaleo MTF 測試平臺的特點(diǎn)：

-單次測量，MTF測量高達(dá)截止頻率，精度類似于干涉測量法

-高品質(zhì)的準(zhǔn)直光源，經(jīng)濟(jì)有效的解決方案

-無需重新校準(zhǔn)離軸測量，自動對焦，易于校準(zhǔn)和多種應(yīng)用

-幾種不同的波長（默認(rèn)為RGB + IR），在幾個方位角處測量

-全自動測量過程

 

Phasics MTF光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀可測的參數(shù)

-軸上和軸外MTF，通過焦點(diǎn)MTF

-傳輸?shù)牟ㄇ板e誤，Zernike多項(xiàng)式

-鏡頭參數(shù)：EFL，F(xiàn)＃，OPD在鏡頭出口瞳孔

-散光，圖像失真，場曲率

-相對照度曲線

 

法國Phasics 鏡頭測試系統(tǒng)的具體參數(shù)：

參數(shù)	參數(shù)值
光學(xué)設(shè)置	有限到無限配置
波長范圍	400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5μm / 8-14μm
入瞳直徑	Up to 8.8 mm
F#	> 1.8 mm
Flange焦距	8 to 30 mm
焦距范圍	5 to 500 mm
視場角	Up to ±120°
MTF on-axis	準(zhǔn)確性 <1%* - 重復(fù)性 <0.5%*
MTF off-axis	準(zhǔn)確性 <2%** -重復(fù)性 <1%**
MTF 精確度	LWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02
MTF 重復(fù)性	LWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01
失真	準(zhǔn)確性 <0.5% - 重復(fù)性 <0.05%
場曲率	準(zhǔn)確性 <5μm - 重復(fù)性 <1μm
OPD（光程差）軸上	準(zhǔn)確性 20 nm RMS -重復(fù)性<5 nm RMS