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PHASICS波前分析儀/波前探測器/剪切干涉儀
 
   
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PHASICS波前分析儀/波前探測器/剪切干涉儀

法國PHASICS公司自主研發(fā)的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態(tài)檢測范圍、操作簡便等獨特的優(yōu)勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析,眼科虹膜定位波前像差引導(dǎo)等提供了全新的解決方案!

  • 貨  號:G5993B159B5521
  • 品  牌:Phasics
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PHASICS波前分析儀/波前探測器/剪切干涉儀

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法國PHASICS公司自主研發(fā)的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態(tài)檢測范圍、操作簡便等獨特的優(yōu)勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析,眼科虹膜定位波前像差引導(dǎo)等提供了全新的解決方案!

PHASICS波前探測器配套的軟件界面友好,可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強度分布圖。

1、技術(shù)特點 (法國PHASICS波前分析儀

◆高分辨率(高達300 x400個采樣點)    ◆消色差    ◆高動態(tài)范圍    ◆高靈敏度    ◆操作簡便    ◆設(shè)計簡潔緊湊

2、技術(shù)優(yōu)勢(法國PHASICS波前分析儀

高分辨率的相位圖能夠提供高分辨率的相位圖。標準分辨率為160x120個采樣點,最高分辨率可達400x300。高分辨率的探測器能精確測量鏡片像差,并能做到較高的測量重復(fù)性。 

◆具有直接測量高發(fā)散光束的能力我們的波前探測技術(shù)具有直接測量光路系統(tǒng)相差的能力,并且無需額外的過渡鏡。

◆消色差SID4探測器能夠匹配CCD整個探測范圍,用于不同波長光而無需額外校準,也能用于多色光源。

◆對準方便SID4探測器無需精確的,很繁冗的校準步驟,分析算法為校準波前探測器提供便利。

◆符合人體工程學原理設(shè)計緊湊的SID4探測器配置了電腦和專用KALEO軟件,其友好的人機界面使光學測量過程更符合人體工程學原理。

◆光學測量專用的KALEO軟件SID4探測器為光學測量配置了專用的Kaleo軟件。該軟件允許在一次測量中提供完整的測量項目的光學量值特征:相差,PSF,MTF,有效焦距等。定制的特征報告也可編輯。

 3、SID4&SID4-HR參數(shù)說明 (法國PHASICS波前分析儀

型號SID4 UV-HRSID4SID4 HRSID4 NIRSID4 SWIRSID4 IR-MCTSID4 DWIRSID4 LWIR
波長190 – 400 nm400 – 1100 nm400 – 1100 nm1,5 – 1,6 μm0,4 – 1,7 μm1,2 – 5,5 μm3 – 5 μm and
8 – 14 μm
8 – 14 μm
孔徑8.0 × 8.0 mm23.6 × 4.8 mm28.9 × 11.8 mm23.6 × 4.8 mm29.6 × 7.68 mm29.60 x 7.68 mm210.08 ×8.16mm216 x 12 mm2
空間分辨率32 μm29,6 μm29,6 μm29,6 μm60 μm60 μm68 μm100 μm
采樣點250 x 250160 x 120300 x 400160 x 120160 x 128160 x 128160 x 120160 x 120
精度 (絕對精度)10 nm RMS10 nm RMS15 nm RMS15 nm RMS15 nm RMS75 nm RMS75 nm RMS75 nm RMS
分辨率(靈敏度0,5nm RMS< 2 nm RMS< 2 nm RMS<11nm MS<2 nm RMS< 3 nm RMS25 nm RMS25 nm RMS
動態(tài)范圍> 200 μm> 100 μm> 500 μm> 100 μm> 100 μm300 μm> 100 μm> 100 μm
采樣頻率30 fps> 100 fps> 30 fps60 fps120 fps140 fps> 50 fps40 fps

4、應(yīng)用方向(法國PHASICS波前分析儀

激光束質(zhì)量分析

◆自適應(yīng)光學

◆光學元件表面測量

◆生物成像

◆熱成像,等離子體表面物理

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