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法國Phasics--高分辨率波前分析儀/波前傳感器/剪切干涉儀
 
   
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法國Phasics--高分辨率波前分析儀/波前傳感器/剪切干涉儀

法國PHASICS公司自主研發(fā)的波前傳感器、波前分析儀、波前探測(cè)器是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測(cè)器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動(dòng)態(tài)檢測(cè)范圍、操作簡(jiǎn)便等獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。為波前像差、波前畸變的檢測(cè)以及激光光束及波前的測(cè)量、分析,眼科虹膜定位波前像差引導(dǎo)等提供了全新的解決方案!

  • 貨  號(hào):G5993AC8621DCE
  • 品  牌:Phasics
  • 銷售價(jià):
購買數(shù)量:
  (庫存10)
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法國Phasics--高分辨率波前分析儀/波前傳感器/剪切干涉儀

法國PHASICS公司自主研發(fā)的波前傳感器、波前分析儀、波前探測(cè)器是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測(cè)器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動(dòng)態(tài)檢測(cè)范圍、操作簡(jiǎn)便等獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。為波前像差、波前畸變的檢測(cè)以及激光光束及波前的測(cè)量、分析,眼科虹膜定位波前像差引導(dǎo)等提供了全新的解決方案!

   

法國PHASICS公司自主研發(fā)的波前傳感器、波前分析儀、波前探測(cè)器是基于四波橫向剪切干涉技術(shù),對(duì)哈特曼掩模技術(shù)進(jìn)行了大的升級(jí)、改進(jìn)。PHASICS波前傳感器將400X300的超高分辨率和500um的超大動(dòng)態(tài)范圍完美結(jié)合在了一起。可以滿足不同的客戶的應(yīng)用需求,可對(duì)激光光束進(jìn)行光強(qiáng)、位相、PSF(點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù))、MTF(調(diào)制傳遞函數(shù))、OTF(光學(xué)傳遞函數(shù))、波前像差、M2等進(jìn)行實(shí)時(shí)、簡(jiǎn)便、快速的測(cè)量。

PHASICS波前傳感器波前分析儀、波前探測(cè)器--技術(shù)優(yōu)勢(shì):

高分辨率的相位圖,最高分辨率可達(dá)400x300。

具有直接測(cè)量高發(fā)散光束的能力

消色差,匹配CCD整個(gè)探測(cè)范圍,用于不同波長(zhǎng)光而無需額外校準(zhǔn)。

PHASICS波前傳感器、波前分析儀、波前探測(cè)器--應(yīng)用方向:

激光束質(zhì)量分析

自適應(yīng)光學(xué)

光學(xué)元件表面測(cè)量

生物成像

熱成像,等離子體表面物理

法國PHASICS波前傳感器、波前分析儀、波前探測(cè)器主要型號(hào)相關(guān)參數(shù): 

?


  SID4     UV HR

SID4 Visible

SID4 Visible HR

  SID4    NIR

SID4 SWIR

  SID4      IR MCT

  SID4     DWIR

SID4 LWIR

波長(zhǎng)

 190 – 400 nm

400 – 1100   nm

400 – 1100 nm

1,5 – 1,6   μm

0,4 – 1,7   μm

1,2 – 5,5   μm

3 – 5 μm   and
  8 – 14 μm

8 – 14 μm

孔徑

8.0 × 8.0 mm2

3.6 × 4.8 mm2

8.9 × 11.8 mm2

3.6 × 4.8 mm2

9.6 × 7.68 mm2

9.60 x   7.68 mm2

10.08 ×8.16mm2

16 x 12   mm2

空間分辨率

32 μm

29,6 μm

29,6 μm

29,6 μm

60 μm

60 μm

68 μm

100 μm

采樣點(diǎn)

250 x 250

160 x 120

300 x 400

160 x 120

160 x 128

160 x 128

160 x 120

160 x 120

精度 (絕對(duì)精度)

10 nm RMS

10 nm RMS

15 nm RMS

15 nm RMS

15 nm RMS

75 nm RMS

75 nm RMS

75 nm RMS

分辨率(靈敏度

0,5 nm RMS

< 2 nm   RMS

< 2 nm   RMS

< 11 nm   RMS

< 2 nm   RMS

< 3 nm   RMS

25 nm RMS

25 nm RMS

動(dòng)態(tài)范圍

> 200   μm

> 100   μm

> 500   μm

> 100   μm

> 100   μm

300 μm

> 100   μm

> 100   μm

采樣頻率

30 fps

> 100 fps

> 30 fps

60 fps

120 fps

140 fps

> 50   fps

40 fps

 

Kaleo-T: 光學(xué)質(zhì)量診斷

        KALEO-T (T 代表透射) 可同時(shí)測(cè)量任何光學(xué)系統(tǒng)的像差,聚焦長(zhǎng)度,點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)PSF,和MTF,并且無需中繼透鏡也可直接測(cè)量高數(shù)值孔徑(high NA)的光學(xué)系統(tǒng)。 

        作為光學(xué)測(cè)量設(shè)備,Kaleo 可測(cè)量球面鏡,非球面鏡,人工眼睛晶狀體, 光學(xué)物鏡等。
        基于菲茲克斯的獨(dú)創(chuàng)性波陣面技術(shù)(4 波橫向剪切干涉法),KALEO 可對(duì)透鏡進(jìn)行全面而精確的評(píng)估。它可測(cè)量球面和非球面系統(tǒng)的像差,MTF,PSF,和焦距。
        該技術(shù)可直接測(cè)量數(shù)值孔徑達(dá)0.75的光學(xué)系統(tǒng)而無需任何中繼透鏡。


       Kaleo-T 的優(yōu)勢(shì)
        一束經(jīng)過校正并準(zhǔn)直的光束經(jīng)過需評(píng)估的透鏡后由波陣面探測(cè)器進(jìn)行分析,盡管經(jīng)透鏡后的光束可能是高度發(fā)散的,但在透鏡和波陣面探測(cè)器之間并不需要任何中繼透鏡。菲茲克斯發(fā)明的用于光學(xué)測(cè)量的技術(shù)的主要優(yōu)點(diǎn)是可獲得高分辨率的位相圖,從而可非常精確地測(cè)出任何光學(xué)系統(tǒng)的像差和MTF等特性參數(shù)。該儀器的設(shè)計(jì)非常緊湊并且對(duì)環(huán)境振動(dòng)不敏感。KALEO將人性化考量及便于測(cè)量操作設(shè)計(jì)進(jìn)了其非??煽康能浖小K臏y(cè)試報(bào)告格式可按用戶需求量身定做。在工業(yè)生產(chǎn)中,KALEO在生產(chǎn)線上和技術(shù)開發(fā)部門都可應(yīng)用。 

        Kaleo-T 詳細(xì)技術(shù)指標(biāo)

被測(cè)透鏡直徑

從 3 mm 到 20 mm

被測(cè)透鏡數(shù)值孔徑

可達(dá) 0.3 (f/1.6)

被測(cè)透鏡焦距 范圍

從 3 mm to 50 mm

焦距精度

優(yōu)于1%

取樣點(diǎn)

可達(dá)120 x 120 像素點(diǎn)

測(cè)量精度

10 nm RMS

測(cè)量靈敏度

3 nm RMS

適用波長(zhǎng)范圍

350 nm – 1100 nm

光源接口

光纖

尺寸

250 x 470 x 350 mm

更多波前分析儀產(chǎn)品型號(hào):

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